内存测试卡
类型：转载 责任编辑：egoo 日期：2007/03/01
内存测试卡使用说明
本测试卡是居于pci接口的内存测试卡,通过搭配专用主板,可以测试sdr,
ddr内存.内存频率包括66mhz,100mhz,133mhz.本卡功能包括内存条ic
好坏测试,内存条短路测试,ic内部好坏测试,内存条兼容性稳定性测试.测
试速度快,能精确指出内存条上坏ic所在的位置.是内存生产,维修的好帮手.
一:系统主要组成部分及用法
二:系统测试环境
三:问题和解答
一:本系统主要组成部分为: 3个7段数码管(u4-u6),1个5x8显示阵列(u2),2
个开关(s1,s2)
1:7段数码管用来显示内存m数:
在内存测试过程中,每测完1m,数码管就会显示相对应的m数,测试完后,数码管会
显示出总容量的m数.比如:当你测试双面32m内存时,开始数码管显示000,表明正在
测试0到1m的地址范围.测完1m后,数码管显示001,表示正在测试1m到2m的范围.
测试完后,数码管显示032.
2:开关用来选择测试模式:
本系统提供了四种测试模式:s1,s2 = 00 , 01 , 10 , 11
a):s1,s2=00
此模式也叫快速测试.通过对内存跳跃式测试来判断内存好坏,主要针对ic内部
大部分损坏,金手指接触不良,或者ic假焊,连焊等由于加工造成的内存条损坏.对
于133m外频的内存条,每测试128m约需要5秒钟.
b):s1,s2=01
此模式也叫全面测试.通过对内存中每一单元进行多次读写来判断内存好坏,主要
针对ic内部局部损坏进行测试.对于133m外频的内存条,每测试1m约需要1秒
钟.
